재료: 부분적으로 투명한 필름 과 모든 반도체(투명도에 관계없이)를 측정 가능합니다. 참고로 필름은 적어도 외관상 광택이 있어야 합니다.

두께 범위: 측정 두께는 1nm부터 1mm까지. 굴절율은 70nm부터 10µm까지 두께의 필름에서 측정 가능합니다.

박막(층) 수: 최대 3개층의 각각의 층을 측정할수 있습니다. 경우에 따라 수십개의 층도 측정할 수 있습니다.

기판재료: 만약 기판이 거칠다면 (거의 모든 금속), 일반적으로 필름의 굴절율을 측정할 수 없습니다. 참고로, 거친 기판을 측정할 수 있는 필름의 두께는 최대50nm입니다.

사전에 필요한 정보: 측정물질의 모든 필름의 대략적 두께와 적층순서와 어떤 재료인지, 알아야 합니다.

고객님의 측정 사양에 관하여자사의 박막(Thin Film) 전문가들에게 문의하시기 바랍니다.

Filmetrics가 제공하는 무료 샘플측정 - 결과는 보통 1-2일정도 소요됩니다.